扫描电子显微镜（SEM）

    设备简介：利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息。它能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，扫描电子显微镜能被用来鉴定样品的表面结构。它具有制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大等特点。可观察纳米材料、进口材料断口的分析、直接观察大试样的原始表面、观察厚试样、观察试样的各个区域的细节、从高倍到低倍的连续观察、动态观察等。